מערכות חיישנים קונפוקליים למדידת תזוזה, מרחק, מיקום ועובי
מערכת המדידה הכרומטית ConfocalDC משמשת למדידה מהירה של מרחק ועובי. דגמי חיישנים וממשקי בקר שונים מאפשרים תחומי יישום מגוונים, למשל בתעשיית המוליכים למחצה, תעשיית הזכוכית, הנדסה רפואית וייצור פלסטיקה.
מדידת תזוזה ומרחק ברמת דיוק גבוהה של כמעט כל סוגי המשטחים
עקרון המדידה הכרומטית הקונפוקלית מאפשר מדידת תזוזה ומרחק ברמת דיוק גבוהה, כולל על משטחים מפזרי אור ומחזירי אור. הגודל הקטן של נקודת האור מאפשר איתור של עצמים קטנים מאוד. מסלול הקרן הצירי מונע השפעה של הצללות, ומאפשר מדידות אפילו בשרוולים ובשקעים. גרסת ה-90 מעלות מאפשרת מדידה של צורות גיאומטריות בתוך חורים ושקעים.
מתאם הרכבה מתכוונן ליישור החיישן
כדי להשיג דיוק מקסימלי, החיישנים הקונפוקלים חייבים להיות מיושרים בניצב ככל האפשר לאובייקט המדידה. מתאם ההרכבה המתכוונן משמש ליישור אופטימלי של כל חיישני confocalDT למטרה. ניתן גם ליישר את החיישן לאחר ההתקנה במכונה. המתאם התעשייתי מאפשר את התזוזה בצירים x ו-y וכן הטיית החיישן לאובייקט המדידה.
חדש: מתאם הרכבה מתכוונן למדידת עובי דו-צדדי
ה-JMA-Thickness מורכב משני מתאמי הרכבה מתכווננים, ותומך ביישור של חיישנים במדידות עובי דו -צדדיות. משמעות הדבר היא שניתן לסדר את נקודות המדידה באופן חופף לחלוטין על ציר אופטי, מה שמבטיח מדידות עובי אמינות בדיוק הגבוה ביותר. ה-JMA-Thickness אידיאלי לשילוב במכונות ובמפעלי ייצור. לוחות ההרכבה מראש המאפשרים התקנה מהירה וקלה.
מדידת עובי חד-צדדית של חומרים שקופים
עקרון המדידה הכרומטית הקונפוקלית מאפשר מדידת עובי של חומרים שקופים כזכוכית. ערך העובי נמדד ברמת דיוק מיקרומטרית באמצעות חיישן אחד בלבד. הבקר מספק מסד נתונים של חומרים, אשר ניתן לעריכה ולהרחבה. ניתן להתאים פרמטרים ספציפיים לחומר, כגון מדדי שבירה, באמצעות ממשק האינטרנט. מדידות מרובות שיא מאפשרות הערכה של עד 6 שכבות, תכונה המאפשרת מדידת עצמים רב-שכבתיים, כגון זכוכית רבודה.ציפויים יחודים על רכיבי אלקטרוניקה ומעבדים
הכנה לתנאי ואקום
חיישני confocalDT עשויים מרכיבים פסיביים ואינם מפזרים חום. ליישומי ואקום, במיוחד, מיקרו-אפסילון מציעה חיישנים, כבלים ואביזרים המתאימים למפרט הנדרש.
שיעורי מדידה מהירים ביותר למשימות מדידה דינמיות
בקצבי מדידה גבוהים, חיוני שהחשיפה תהיה מותאמת למשטח המתאים. לכן, החשיפה של קו CCD נשלטת באופן דינמי בבקר confocalDT. בקרה זו מפצה על שינויים בצבע וברפלקטיביות של אובייקט המדידה ומגבירה את דיוק המדידה בקצבי מדידה גבוהים.
נקודת אור סופר-זעירה מודדת פרטים ומבנים קטנים ביותר
חיישני קונפוקל ממיקרו-אפסילון מייצרים את נקודת האור הקטנה ביותר – פחות מ-3 מיקרומטר – בזכות צמצם ספרתי (NA) ברמה גבוהה. משום כך, ניתן לאתר ולמדוד את הפרטים והמבנים הקטנים פני שטח ,פגמים ועוד ביותר באופן מהימן.
זווית הטיה גדולה מאוד
חיישני IFS confocalDT נתנים לבצע מדידות בזווית הטיה גדולה של עד 48 מעלות. משום כך, משטחים קמורים ומובנים מאותרים במהימנות להפקת אותות יציבים.
בקרים ברזולוציות ומהירויות גבוהות
יחס אות-רעש של בקרי confocalDT הוא מצוין, ומאפשר מדידות ברמת דיוק גבוהה. בקרים אלה הם בין הבקרים המהירים בעולם ומשמשים לעתים קרובות למשימות ניטור דינמיות. יכולת פיצוי פני השטח המהירה מווסתת את מחזורי החשיפה להשגת יציבות אות גבוהה המועילה במיוחד בעת מדידת משטחים עם מאפייני השתקפות משתנים. הממשקים הם RS422, אתרנט או אתרקאט או AnalogOut.
קלות הפעלה באמצעות ממשק אינטרנט
תודות לממשק אינטרנט ידידותי למשתמש, כל תהליך ההגדרה מתבצע ללא שימוש בתוכנה נוספת כלשהי. ניתן לגשת בממשק אתרנט לממשק האינטרנט, המספק אפשרויות הגדרה ותצורה. החומרים נשמרים במסד נתוני חומרים הניתן להרחבה.
Interface and signal processing units
ממשקים מרובים לאינטגרציה פשוטה
Application
